FSU26,频谱分析仪
主要特点 频率范围 20 Hz ~ 26.5 GHz (使用外部混频器可达到 110 GHz/1 THz) **的射频性能 相位噪声低 -- –128 dBc (1 Hz),10 kHz载波偏置下的典型值为–133 dBc (1 Hz) DANL –158 dBm (1 Hz) 三阶截止点(TOI)典型值 +25 dBm 分辨率带宽 1 Hz ~ 50 MHz 动态范围*高,例如 3GPP ACLR 测量时高达 84 dB 采用预放 (R&S®FSU-B24) 测量 DANL 时 典型值–168 dBm (1 Hz),20 GHz 时 典型值–155 dBm (1 Hz),50 GHz 时 TOI、MC ACP(R)、OBW、CCDF、APD 等测量功能 满足蜂窝标准、无线连接性标准和一般性标准的测量应用,例如相位噪声、噪声系数、矢量信号分析等等 频谱分析仪 详细介绍 R&S®FSU 是一款高性能频谱分析仪,它具有出色的相位噪声、动态范围、测量精度,可满足射频分析的任何挑战,可广泛用于 67GHz 以下的航空航天和国防或常规微波应用领域。 R&S®FSU 出色的射频性能 出色的射频性能一直是罗德与施瓦茨频谱分析仪的标志,R&S®FSU 继承了这一传统,具有以下无可比拟的**的射频指标: 频率范围: R&S®FSU3:20 Hz ~ 3.6 GHz R&S®FSU8:20 Hz ~ 8 GHz R&S®FSU26:20 Hz ~ 26.5 GHz R&S®FSU43:20 Hz ~ 43 GHz R&S®FSU46:20 Hz ~ 46 GHz R&S®FSU50:20 Hz ~ 50 GHz R&S®FSU67:20 Hz ~ 67 GHz 射频性能: DANL 测量的典型值为 -158 dBm (1Hz)(无预放) 单边带相位噪声典型值 - 133 dBc (1Hz) @ 10 kHz 偏离,载波 640 MHz 相位噪声典型值 - 160 dBc/Hz @ 10 MHz 偏离,载波 640 MHz 三阶截止点典型值 25 dBm 1 dB压缩点典型值 13 dBm WCDMA ACLR 动态范围为 77.5 dB / 84 dB(采用噪声校正)